Analisi quantitativa: materiale di riferimento e procedimento di calibrazione

Descrizione

Materiale di riferimento e procedimento per la determinazione  quantitativa di elementi su scala nanometrica mediante Spettroscopia a raggi X e Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM).

Il procedimento messo a punto utilizza un materiale di riferimento appositamente realizzato. Questo materiale è ottenuto depositando, mediante tecniche fisiche di deposizione da fase vapore, uno o più strati degli elementi di interesse, es. oro e argento, su griglie di rame ricoperte da un film di carbone amorfo.

L’elevata omogeneità del materiale di riferimento così preparato consente di calibrare le strumentazioni di analisi al fine di rilevare quantità dell’ordine dei nanometri, permettendo di superare i limiti delle metodologie finora impiegate.

Vantaggi

Il particolare processo di preparazione del materiale di riferimento, oggetto del brevetto,  consente di ottenere un materiale di riferimento omogeneo utilizzabile per la calibrazione degli strumenti fino a concentrazioni dell’ordine dei nanometri, consentendo così di superare i limiti delle metodologie finora impiegate.

Campo di applicazione

La determinazione  quantitativa di elementi mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM) viene utilizzata da oltre 20 anni, ma i risultati sono inferiori alle aspettative. Questo perché finora è stato difficile realizzare un materiale di riferimento omogeneo da utilizzare per calibrare gli strumenti per rilevare concentrazioni dell’ordine dei nanometri. Questo brevetto offre la possibilità di superare i limiti legati alla preparazione del materiale di riferimento, aprendo le porte all’impiego di questa metodologia per il dosaggio di elementi in tracce. Il potenziale mercato di riferimento è nei produttori di strumentazione scientifica mondiale.

Scheda tecnica

Il materiale di riferimento è costituito da uno o più strati degli elementi di interesse, es. oro e argento, depositati, mediante tecniche fisiche di deposizione da fase vapore, su griglie di rame ricoperte da un film di carbone amorfo che fa da materiale di supporto. La  griglia di rame è un materiale opaco al fascio elettronico e il materiale di supporto è a bassa emissione raggi X, adatto quindi per l'osservazione al TEM. Il metodo di preparazione messo a punto consente la preparazione di campioni omogeni anche a concentrazioni dell’ordine dei nanometri. L'invenzione comprende anche il procedimento di calibrazione per la micro-analisi a raggi X o in microscopia elettronica a trasmissione.

 

Titolo BrevettoMateriale di Riferimento per l'Analisi Quantitativa di Elementi su Scala Nanometrica, e Procedimento di Calibrazione per la Micro-Analisi a Raggi X o la Spettroscopia Elettronica, in Microscopia Elettronica a Trasmissione.
InventoriNacucchi Michele - Alvisi Marco
Data Deposito12-05-2009
N° brevetto ENEA682
N Dom BrevRM2009A000233
Stato del brevettovigente
Paesi di vigenzaItalia
TitolareENEA
Contatti Michele Nacucchi